Ⅰ imagej测什么指标时对光线要求高吗
imagej测指标时对光线要求高。
ImageJ是一个很强大的图片处理工具，那么对于我们平时拍的带有荧光色彩的图片，想要测量荧光的强度用来进行定量描述，这些都可以用ImageJ来进行完成。
免疫荧光染色是研究特异蛋白抗原在细胞内分布的一种常用实验技术，通过荧光素所发的荧光可在荧光显微镜下对抗原进行细胞定位。
但免疫荧光的照片不仅仅可以做形态学分析，还能通过检测平均荧光强度，对特异性蛋白表达进行半定量分析。
在进行平均荧光强度检测之前，首先要清楚平均荧光强度的定义。
对于一张单通道（单色）的荧光图片，每个像素的灰度值代表了该点的荧光强度大小，特定区域的荧光强度公式：
平均荧光强度(Mean) = 该区域荧光强度总和(IntDen) / 该区域面积(Area)
Ⅱ 如何用image pro plus分析图像荧光强度
打开Launch Center Pro，创建一个叫Omnifocus的操作组，然后再往这个操作组添加新的操作。
如果你要在 Omnifocus 创建新收件箱项，添加URL到Launch Center Pro即可通过Launch Center Pro快捷创建收件箱项。
在URL一栏输 入：omnifocus:///add?name=[prompt]添加新的URL快捷进入创建一个新收件箱项
点go就可以直接进入Omnifocus了
如果你想把复制到内容粘贴到新收件箱项，我们还可以创建一个新的快捷操作到Launch Center Pro，命名为粘贴，然后再URL一栏输入：omnifocus:///add?name=[prompt]¬e=[clipboard]。
Ⅲ 荧光分光光度计测试步骤是怎么样的
测试步骤：(一)样品准备 1.液体样品根据用户提供的技术指标，检查浓度范围是否合适，如果需要稀释，则要考虑所需溶剂类型和稀释倍数。 2.固体样品均匀粉末、片状或具有光滑平面的块状样品，均可直接测定。 (二)操作步骤 1.开机：接通电源，打开主机开关，点燃(打开)光源后，根据说明书要求启动计算机。 2.检测前准备：参照仪器说明书，在20天内至少进行一次激发校准和发射校准，检测前仪器应预热。 3.工作条件的选择：环境温度应在20℃±5℃;相对湿度不大于70%;电源稳定，无磁场、电场干扰。根据样品的特性及荧光强度，选择合适的仪器工作条件(如狭缝、PM增益、响应时间等)。 4.基本测定 (1)荧光激发光谱测定 设置仪器参数，扫描发射波长，找到maxλem，以此为发射波长，记录发射强度作为激发波长的函数，便得到激发光谱。 (2)荧光发射光谱测定 设置仪器参数，扫描激发波长，找到maxλex，以此为激发波长，记录发射强度与发射波长间的函数关系，便得到荧光发射光谱。 (3)差谱测定 设置仪器参数，选择合适的工作方式，测定背景溶液的发射光谱并储存起来，在一定的工作方式下，扫描样品溶液的发射波长，得到当时的光度值和储存的背景值之间的差示值，即差谱。 (4)峰面积积分 选择适当的工作方式，对样品溶液进行积分操作，即得到峰面积积分。 (5)荧光强度 选择合适的测量参数，设置λex、λem，采用定点读数或扫描方式，即可测得所选波长处的荧光强度。 (6)定量测定 配制一系列已知浓度的标准溶液，在一定的测定条件下，设置λex、λem，按照由稀至浓的次序，测定标准溶液的荧光强度，绘制荧光强度—浓度的工作曲线，不改变仪器参数测定未知溶液的荧光强度，由工作曲线即可求出未知溶液的浓度。 (三)分析结果的表述 1.荧光激发光谱、发射光谱以及其他光谱由仪器控制电脑直接绘出。 2.峰面积积分、荧光强度由仪器控制电脑计算显示。 3.定量测试：在相同的测定条件下，测定一系列已知浓度的标准溶液的荧光强度，绘制出荧光强度-浓度的工作曲线。浓度未知的溶液的荧光强度测定后，由工作曲线求出该溶液的浓度。 (四)注意事项 1.在实验开始前，应提前打开仪器预热，并配制好所需的溶液，对于已经配制好的溶液，在不用时放在4℃冰箱中保存，放置时间超过一星期的溶液要重新配制。 2.实验所用的样品池是四面透光的石英池，拿取的时候用手指掐住池体的上角部，不能接触到四个面，清洗样品池后应用擦镜纸对其四个面进行轻轻擦拭。 3.在测试样品时，注意荧光强度范围的设定不要太高，以免测得的荧光强度超过仪器的测定上限。 4.实验结束后，要及时的清理台面，处理废液，清洗和放置好样品池，将下次要用的溶液放回冰箱，并且按规定登记实验记录，养成良好的实验习惯。Ⅳ 如何用ImageJ2x分析荧光强度
imagej等分析共两步，先用segmentation选出待测区域
，再选荧光参数iod等测量。找个例子一看就懂了。
背景建议在得到数据后再扣。图片扣背景后再segmentation有的会有问题。
Ⅳ 蔡司荧光需要校准吗
需要。蔡司荧光只有校准才能正常使用，所以是需要校准的。蔡司荧光显微镜是一种用于物理学、生物学、地球科学领域的分析仪器。
Ⅵ 怎么用PS软件看图片荧光强度
看不了。用PS软件查看不了看图片的荧光强度，PS软件是一种能够随意修改图片的强大软件，它可以将图片修改为荧光效果，但是目前PS无法查看图片的荧光强度。
Ⅶ 求教如何测荧光强度
荧光光度计的两个单色器是不同的，一个叫做激发单色器，一个叫做发射单色器。在光路中是这样的，光源灯发出的光进入激发单色器中，然后进入样品池，激发样品中的物质发射出荧光，然后在样品池中呈90°角的方向，发射出的荧光进入发射单色器，然后再进入接收器得到荧光强度。激发单色器是用来激发物质的荧光，在某个波长，被测物质有最大的吸收，和可见分光光度计类似。发射单色器是荧光在某个波长上荧光强度是最大的。一般被测物质的发射波长比激发波长大。
Ⅷ 免疫荧光如何做定量分析
和免疫组化一样，只能通过软件分析得出一个“数值”，可以当一个“半定量”的指标，但我认为准确性差，如果是要分析蛋白的表达情况，建议用western比较好些。统计荧光强度的软件没有用过，以前只用过免疫组化的光密度分析软件，影响结果的因素太多了。。。。。
Ⅸ 荧光分析法中还可以根据哪些参数进行定量
X射线荧光光谱法进行定量分析的依据是元素的荧光X射线强度I1与试样中该元素的含量Wi成正比：
Ii=IsWi （10.2）
式中，Is为Wi=100%时，该元素的荧光X射线的强度。根据式(10.2)，可以采用标准曲线法，增量法，内标法等进行定量分析。但是这些方法都要使标准样品的组成与试样的组成尽可能相同或相似，否则试样的基体效应或共存元素的影响，会给测定结果造成很大的偏差。所谓基体效应是指样品的基本化学组成和物理化学状态的变化对X射线荧光强度所造成的影响。化学组成的变化，会影响样品对一次X射线和X射线荧光的吸收，也会改变荧光增强效应。例如，在测定不锈钢中Fe和Ni等元素时，由于一次X射线的激发会产生NiKα荧光X射线，NiKα在样品中可能被Fe吸收，使Fe激发产生FeKα，测定Ni时，因为Fe的吸收效应使结果偏低，测定Fe时，由于荧光增强效应使结果偏高。但是，配置相同的基体又几乎是不可能的。为克服这个问题，目前X射荧光光谱定量方法一般采用基本参数法。该办法是在考虑各元素之间的吸收和增强效应的基础上，用标样或纯物质计算出元素荧光X射线理论强度，并测其荧光X射线的强度。将实测强度与理论强度比较，求出该元素的灵敏度系数，测未知样品时，先测定试样的荧光X射线强度，根据实测强度和灵敏度系数设定初始浓度值，再由该浓度值计算理论强度。将测定强度与理论强度比较，使两者达到某一预定精度，否则要再次修正，该法要测定和计算试样中所有的元素，并且要考虑这些元素间相互干扰效应，计算十分复杂。因此，必须依靠计算机进行计算。该方法可以认为是无标样定量分析。当欲测样品含量大于1%时，其相对标准偏差可小于1%。
Ⅹ 荧光物含量测定方法的定量测定
荧光分析法的定量测定方法较多，可分为直接测定法和间接测定法两类。
a.直接测定法：
利用荧光分析法对被分析物质进行浓度测定，最简单的便是直接测定法。某些物质只要本身能发荧光，只须将含这类物质的样品作适当的前处理或分离除去干扰物质，即可通过测量它的荧光强度来测定其浓度。具体方法有两种。
1. 直接比较法：配制标准溶液的荧光强度Fx，已知标准溶液的浓度Cs，便可求得样品中待测荧光物质的含量。
如果空白溶液的荧光强度调不到零，则必须从Fs和Fx值中扣除空白溶液的荧光强度F0，然后进行计算。
2. 标准曲线法：将已知含量的标准品经过和样品同样处理后，配成一系列标准溶液，测定其荧光强度，以荧光强度对荧光物质含量绘制标准曲线。再测定样品溶液的荧光强度，由标准曲线便可求出样品中待测荧光物质的含量。
为了使各次所绘制的标准曲线能重合一致，每次应以同一标准溶液对仪器进行校正。如果该溶液在紫外光照射下不够稳定，则必须改用另一种稳定而荧光峰相近的标准溶液来进行校正。例如，测定维生素B1时，可用硫酸奎宁溶液作为基准校正仪器。
b、间接测定法：
有许多物质，它们本身不能发荧光，或者荧光量子产率很低，仅能显现非常微弱的荧光，无法直接测定，这时可采用间接测定方法。
间接测定方法有以下几种：
1.化学转化法：通过化学反应将非荧光物质变为适合于测定的荧光物质。例如金属与螯合剂反应生成具有荧光的螯合物。有机化合物可通过光化学反应、氧化还原、偶联、缩合反等应，使它们转化为荧光物质。
2.荧光猝灭法：这种方法是利用本身不发荧光的被分析物质能使某种荧光化合物的荧光猝灭的性质，通过测量荧光化合物荧光强度的下降，间接地测定该物质的浓度。
3.敏化发光法：对于很低浓度的分析物质，如果采用一般的荧s光测定方法，其荧光信号太弱而无法检测，可使用一种物质（敏化剂）以吸收激发光，然后将激发光能传递给发荧光的分析物质，从而提高被分析物质测定的灵敏度。
